测量接触式探头 WCP

光学扫描式磁性

以前保留给接触部分设备的任务，可以由多传感器坐标测量机上的Werth Contour Probe 来解决。触觉-光学测针传感器首次实现了在确定的工件坐标中进行触觉轮廓测量。与传统的测针仪器相比，WCP的特殊导向系统允许在任何切割中进行扫描，没有首选方向。 • 在不重新装夹工件的情况下，粗糙度也可以在CNC控制下进行测量，并且可以在工件坐标系中扫描出轮廓线。 • 在测量软件WinWerth® 中集成的粗糙度库的帮助下，可以计算出符合标准的粗糙度值。 • 传感器可以通过一个更换站由CNC控制更换 准确度 允许的探测偏差达2 µm 它是如何工作的 通过触觉-光学轮廓传感器，激光距离传感器a）（b）磁性接口，c）镜子，d）轴承）用于测量测针e）的偏移，同时扫描工件表面f）。