实验室微量天平 QCM200

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QCM200石英晶体微天平测量发生在表面或附近或薄膜内的过程中的质量和黏度。该系统包括一个控制器、晶体振荡器电子装置、晶体支架、三个石英晶体和Windows软件。 QCM200石英晶体微天平 QCM200石英晶体微天平测量发生在表面或附近或薄膜内的过程中的质量和粘度。该系统包括一个控制器、晶体振荡器电子装置、晶体支架、三个石英晶体和Windows软件。 该仪器读取5MHz、AT切割石英晶体的谐振频率和电阻。共振频率的变化是沉积在晶体表面的材料质量的一个线性函数。共振时的电阻随与晶体表面接触的材料（薄膜或液体）的粘性/弹性而变化。 作为一种重量测量仪器，QCM200可以测量从微克到零点几纳克的质量。检测极限对应于亚单层原子。可以很容易地观察到构象变化，如相变、肿胀和交联。